机译:硅上自组装层的结构:光谱变角椭圆仪,中子反射和原子力显微镜的组合使用
机译:原子力显微镜并结合椭圆偏振光谱法和反射光谱法对粗糙多晶硅薄膜进行全面表征
机译:原子泛素镜和光谱椭圆仪结合分析类泛素修饰剂在功能性单分子膜上的吸附
机译:可变角度光谱椭偏仪用于薄多孔硅层的孔隙深度剖析:孔隙度梯度层模型
机译:使用光谱反射率,椭圆偏振光谱和原子力显微镜表征界面层和表面粗糙度
机译:使用透明角和原子层沉积技术制造的异质结构超材料的晶状体性能,并使用有限元和光谱椭圆形测定方法分析
机译:Ag(111)上生长的硅层的原子结构:扫描隧道显微镜和非接触式原子力显微镜观察。
机译:硅上自组装层的结构:光谱变角椭圆仪,中子反射和原子力显微镜的结合使用